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中國工程院院士魏復盛一行蒞臨聚光科技考察
發(fā)布時間：2013-12-10
來源：
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11月28日，中國工程院院士魏復盛、中國環(huán)境監(jiān)測總站質檢室主任楊凱、武漢市環(huán)境監(jiān)測中心主任梁勝文一行蒞臨聚光科技和國家環(huán)境保護監(jiān)測儀器工程技術中心考察。
魏復盛一行在公司董事長兼工程技術中心主任王健，實驗室分析儀器業(yè)務部總經理韓雙來的陪同下現場考察了高精度四極桿質譜檢測器、三重四極桿串級質譜檢測器、電感耦合等離子體質譜、多通道PM2.5采樣器等科技部重大科學儀器專項項目的研發(fā)進展和原型樣機，并進行了座談。
在考察和座談過程中，魏復盛全面闡述了當前國內高端分析儀器所面臨的技術研發(fā)起步晚積累少、配套基礎工藝不完善、國際化競爭激烈等諸多挑戰(zhàn)，對聚光科技研發(fā)團隊在重大科學儀器項目研發(fā)中取得的成績表示肯定，同時也提出殷切期望，要求項目研發(fā)團隊繼續(xù)保持攻堅克難的精神，圓滿完成各項技術攻關工作，為中國儀器儀表行業(yè)做出更大貢獻。
